Precision Engineering and Metrology
Sergio Padilla-Olvera
Academic Groups
Member of the academic staff
SOMI XXVII Congreso de Instrumentación. 1 ponencia. Autores: Caballero A; Alagón S; Padilla S; Ruiz L. “Interferómetro láser tipo Michelson para la caracterización de micromáquinas herramienta”. Páginas: AC271. En extenso. 29 a 31 de octubre de 2012. Culiacán, Sinaloa, México. Publicado. Referencia electrónica: Memorias del Congreso.
- Sánchez, J., Padilla, S., Ruiz, G., Valera, B. 2013. “Geometrical principles for analysing hypoidal gears in Coordinate Measuring Machines: Involutometry, protocols, data interpretation”, Measurement, Volumen: 45, Número: 19, Páginas: 2368-2375, Referencia electrónica:
http://www.sciencedirect.com/science/journal/
02632241/45 - CIICA 2013 – SOMI XXVIII Congreso de Instrumentación. 1 ponencia. Autores: Sánchez, J; Padilla S. “Multiplexor – Interfaz PC para la Operación de Robots de Medición con Cinco Grados de Libertad“. Clave JSCIICA-1367. En extenso. 28 a 31 de octubre de 2013. Campeche, Campeche, México. Publicado. Referencia electrónica: Memorias del Congreso.
- XXI IMEKO World Congress “Measurement in Research and Industry”, International Measurement Confederation-IMEKO. 1 ponencia. Autores: Ruiz G, Nava R, Padilla S, Sánchez J, Valera B, Gutiérrez F. “Effects on R&D and teaching of the ISO 17025 accreditation in a calibration university laboratory”. En extenso. 30/08 – 04/09 de 2015. Praga, Rep. Checa. Publicado. ISBN: 978-80-01-05793-3. Páginas: TC11-IMEKO-0208.
- Renovación de la acreditación del Laboratorio de Metrología obtenida ante Perry Johnson Laboratory Accreditation, Inc., con vigencia hasta 2017.
- Simposio de Metrología 2016, Centro Nacional de Metrología. 1 ponencia. Autores: Sánchez, J; Padilla S. “Validación de software para medición por coordenadas“. Clave: 1807. En extenso. 19 al 23 de septiembre de 2016. Querétaro, Qro., México. Publicado. Referencia electrónica: Memorias del Congreso.