M. en I. Sergio Padilla Olvera
Técnico Académico Titular “B”
- Teléfono: (55) 5622-8602
- Extensión: 1109, 1028 (Lab)
- sergio.padilla@icat.unam.mx
Maestro en Ingeniería de Sistemas. Actualmente, Técnico Académico Titular “B” de tiempo completo, adscrito al Laboratorio de Ingeniería de Precisión y Metrología del Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, donde es Coordinador de Calidad.
Trabaja en el desarrollo de instrumentación, patrones de medición y procesos de calibración en metrología dimensional. Involucrado en los últimos años en diversos proyectos relacionados con:
- La prestación de servicios externos, lo cual es una fuente de recursos para el ICAT.
- Desarrollo de manuales y normas que permiten verificar la calidad de las mediciones y calibraciones con relación a patrones establecidos.
- Mantenimiento de la acreditación del Laboratorio de Metrología ante instancias nacionales e internacionales.
Adicionalmente, con participación activa en diversos proyectos de desarrollo tecnológico, así como en la creación y mantenimiento de infraestructura.
La participación en la producción de informes y material editorial, reporta la elaboración de diversos reportes técnicos principalmente externos relacionados con la medición y calibración de patrones e instrumentos de medición, además de la documentación del Sistema de Gestión de la Calidad del Laboratorio.
Profesor del Programa de Posgrado en Ingeniería Química, impartiendo de manera continua a partir de 2005 la asignatura de Temas Selectos de Instrumentación, y a partir del 2007, la asignatura Temas Selectos de Diseño de Experimentos.
En cuanto a la formación de recursos humanos, ha dirigido cuatro tesis de licenciatura y nueve de maestría en temas relacionados con diversos aspectos de ingeniería, metrología y gestión de la calidad. Asimismo, cuenta con participación en comités tutorales y jurados de quince estudiantes del Posgrado de Ingeniería.
Metrología y patrones de medición.
- Gestión de la calidad.
- Instrumentación.
- Incertidumbre de la medición
Procesos de medida a través de imágenes
Gestión de la calidad.
Acreditación del Laboratorio de Metrología Sistema de Calidad ISO17025
Operación y mantenimiento del Sistema de Gestión de la Calidad del Laboratorio de Metrología.
Actualización de la trazabilidad de los patrones de referencia y de trabajo del Laboratorio. Aseguramiento de las actividades de calibración en concordancia con la norma ISO 17025:2017.
Mantenimiento de las instalaciones y equipo de referencia y de trabajo.
Renovación de la acreditación del Laboratorio de Metrología obtenida ante Perry Johnson Laboratory Accreditation, Inc., con vigencia hasta 2022. Atención a solicitudes de servicios metrológicos.
Sánchez Minero Salvador Enrique, Padilla Olvera Sergio, Ruiz Botello Gerardo Antonio, Nava Sandoval Rigoberto, Sánchez Minero José Felipe, Rubio Argüelles Job. “Implementación de técnicas de visualización de sombras (Schlieren Toepler) para la detección de fugas de gas”.
SOMI XXXVII Congreso de instrumentación. 3er Congreso Iberoamericano de Instrumentación y Ciencias Aplicadas. XVIII Congreso Internacional de Electrónica, Control y Telecomunicaciones. (2023)
Valera Orozco Benjamín, Ruiz Botello Gerardo Antonio, Padilla Olvera Sergio. “Sistema electrónico para un palpador LVDT”. SOMI 36 Congreso de Instrumentación. (2022)
Sánchez Minero Salvador Enrique, Jesús Ramón Ávila Trigueros, Velázquez Benítez Amado Manuel, Hernández Sánchez José Federico, Padilla Olvera Sergio. “Evaluación experimental del flujo de calor en superficies mediante la implementación de sensores infrarrojos”.
SOMI XXXVI Congreso de Instrumentación. (2022)
Caballero Ruiz Alberto, Ruiz Huerta Leopoldo, Castillo Hernández José, Padilla Olvera Sergio, Ruiz Botello Gerardo Antonio, Roberto Hernández Martínez. “Interferómetro Láser Tipo Michelson para la Medición de Desplazamientos Submicrométricos”. SOMI XXXVI Congreso de Instrumentación. (2022)
Valera Orozco Benjamín, Ruiz Botello Gerardo Antonio, Padilla Olvera Sergio, Nava Sandoval Rigoberto. “Sistema de control y adquisición de datos para el sistema de medición láser HP 5528A”.
Nombre del congreso: SOMI XXXV Congreso de Instrumentación. (2021)
Impartición de las asignaturas de Temas Selectos de Instrumentación y Diseño de Experimentos a nivel de maestría.
Organización e impartición de cursos extracurriculares.
Dirección de tesis para el Programa de Maestría y Doctorado en Ingeniería, servicio social y prácticas profesionales de estudiantes.
Maestría:
- Programa de Maestría y Doctorado en Ingeniería de la UNAM