Técnico Académico Titular "B"
- Teléfono: (55) 5622-8602
- Extensión: 1611
- guadalupe.banuelos@icat.unam.mx
Físico y Maestro en Ciencias (Ciencia de Materiales) por la Facultad de Ciencias de la UNAM.
Profesor de asignatura en esta misma facultad desde 1995 a la fecha.
Colaboración en el proyecto Mepsicron en el Instituto de Astronomía, de 1992 a 1995.
Personal académico del ICAT desde 1996 en el área de Microscopia de Fuerza Atómica.
Actualmente, encargado del microscopio Raman confocal y fuerza atómica en el Laboratorio Universitario de Caracterización Espectroscópica de ICAT (LUCE-ICAT).
Profesor de asignatura de la Licenciatura en Ciencia Forense de la Facultad de Medicina de la UNAM, desde semestre 2014 – I.
Microscopia de fuerza atómica
Espectroscopia Raman
Películas delgadas
Materiales nanoestructurados
- PAPIME PE115519 “Desarrollo de Modelos Físico-Matemáticos Didácticos para Asignaturas Periciales de la Licenciatura de Ciencia Forense” (2019 – 2021).
- Asignatura: Laboratorio de Física Contemporánea II, Licenciatura en Física, Facultad de Ciencias, UNAM.
- Asignatura: Física Mecánica, Licenciatura en Ciencia Forense, Facultad de Medicina, UNAM.
- Quiroz A., Sato R., Massoni E., Sánchez R., Bañuelos G., Sánchez N. y Mata E., Step by step synthesis of silver films by electroless technique and their SERS application of sodium arsenate, Mater. Res. Express 6 (2019) 116439.
Torres Zúñiga V., Bañuelos Muñetón José Guadalupe, 2017, Modelos físicos y numéricos para la reconstrucción de hechos en ciencia forense: derrumbe de edificios, Lat. Am. J. Phys. Educ., 11, (2), 2308-1 – 2308-7.
Torres Zúñiga Vicente, Bañuelos Muñetón José Guadalupe, 2017, Cálculo de la distancia máxima que justifica utilizar el modelo lineal en una reconstrucción de trayectoria balística, Rev. Bras. Crimin. 6(3), 7-12. http://dx.doi.org/10.15260/rbc.v6i3.183
Reyes-Contreras A., Camacho-López M., Camacho-López S., Olea-Mejía O., Esparza-García A., Bañuelos-Muñetón J.G. y Camacho-López M. A., 2017, Laser-induced periodic surface structures on bismuth thin films with ns laser pulses below ablation threshold, Optical Material Express, 7 (6),1777-1786.